Учебник: ИССЛЕДОВАНИЕ ПАТЕНТНОЙ ЧИСТОТЫ ОБЪЕКТОВ
Всего продано 8
Возвратов 0
Хороших отзывов 1
Плохих отзывов 0
Учебник «Исследование патентной чистоты объектов» / В.В. Шведова/ УДК 347.77, ББК 67.404.3. Учебник для студентов и слушателей РГИИС - М.: Российский государственный институт интеллектуальной собственности. (РГИИС), 2006, - 278 с.
ISBN 5-89508-0 35 - 9
Автор: кандидат технических наук, доцент В.В. Шведова
Рецензенты: Профессор кафедрык МТ-11 МГТУ им. Н.Э. Баумана, доктор технических наук Е.А. Деулин
Профессор, доктор экономических наук Д.И. Кокурин
Патентный поверенный РФ, рег. 346, кандидат биологических наук В.П. Банзакова
Патентный поверенный РФ, рег. 756, отдел патентно-лицензионных работ ОАО "ЛУКОЙЛ" И.В. Рыбакова
Начальник патентного отдела ФГУП "НПЦ АП им. Академика Н.А. Пилюгина" В.А.Шкода
Учебник предназначен для студентов и слушателей всех форм обучения Российского государственного института интеллектуальной собственности, специализирующихся в области создания, охраны и коммерческого использования объектов интеллектуальной собственности.
Учебник содержит теоретический и практический материал, который поможет слушателям разобраться в достаточно сложных вопросах, относящихся к патентной чистоте. Оно может быть использовано патентными работниками предприятий и патентными поверенными, проводящими такого рода исследования.
ISBN 5-89508-0 35 - 9
Автор: кандидат технических наук, доцент В.В. Шведова
Рецензенты: Профессор кафедрык МТ-11 МГТУ им. Н.Э. Баумана, доктор технических наук Е.А. Деулин
Профессор, доктор экономических наук Д.И. Кокурин
Патентный поверенный РФ, рег. 346, кандидат биологических наук В.П. Банзакова
Патентный поверенный РФ, рег. 756, отдел патентно-лицензионных работ ОАО "ЛУКОЙЛ" И.В. Рыбакова
Начальник патентного отдела ФГУП "НПЦ АП им. Академика Н.А. Пилюгина" В.А.Шкода
Учебник предназначен для студентов и слушателей всех форм обучения Российского государственного института интеллектуальной собственности, специализирующихся в области создания, охраны и коммерческого использования объектов интеллектуальной собственности.
Учебник содержит теоретический и практический материал, который поможет слушателям разобраться в достаточно сложных вопросах, относящихся к патентной чистоте. Оно может быть использовано патентными работниками предприятий и патентными поверенными, проводящими такого рода исследования.
Раздел I. Патентная чистота объекта. Общие положения и основные понятия
Раздел II. Ообщая методика экспертизы объектов на патентную чистоту
Глава 1. Оценка условий и выбор оптимальной методики экспертизы
Глава 2. Изучение особенностей патентного законодательства стран, в отношении которых проводится проверка патентной чистоты
Глава 3. Выбор технических решений и других элементов, подлежащих проверке на патентную чистоту
Глава 4. Выбор комплектующих (покупных) изделий и полуфабрикатов, подлежащих проверке на патентную чистоту
Глава 5. Выбор технической документации для проведения экспертизы на патентную чистоту
Глава 6. Определение классификационных рубрик
Глава 7. Выбор патентной документации, по которой будет проводиться исследование патентной чистоты объекта
Глава 8. Формирование и согласование программы экспертизы объекта на патентную чистоту
Глава 9. Поиск, систематизация и отбор патентной документации для дальнейшего анализа
Раздел III. Детальный анализ патентной документации
Раздел IV. Теория эквивалентов
Раздел V. Рекомендации о возможности реализации объекта
Раздел VI. Особенности проведения исследования патентной чистоты объектов в отношении промышленных образцов и товарных знаков
Глава 1. Промышленные образцы
Глава 2. Товарные знаки, знаки обслуживания, наименования мест происхождения товаров, фирменные наименования
Раздел VII. Объекты авторского права, которые необходимо учитывать при исследовании патентной чистоты
Глава 1. Программы для ЭВМ и базы данных
Глава 2. Некоторые другие объекты интеллектуальной собственности, которые необходимо учитывать при исследовании патентной чистоты
Раздел VIII. Документальное оформление результатов исследования объектов на патентную чистоту
Раздел II. Ообщая методика экспертизы объектов на патентную чистоту
Глава 1. Оценка условий и выбор оптимальной методики экспертизы
Глава 2. Изучение особенностей патентного законодательства стран, в отношении которых проводится проверка патентной чистоты
Глава 3. Выбор технических решений и других элементов, подлежащих проверке на патентную чистоту
Глава 4. Выбор комплектующих (покупных) изделий и полуфабрикатов, подлежащих проверке на патентную чистоту
Глава 5. Выбор технической документации для проведения экспертизы на патентную чистоту
Глава 6. Определение классификационных рубрик
Глава 7. Выбор патентной документации, по которой будет проводиться исследование патентной чистоты объекта
Глава 8. Формирование и согласование программы экспертизы объекта на патентную чистоту
Глава 9. Поиск, систематизация и отбор патентной документации для дальнейшего анализа
Раздел III. Детальный анализ патентной документации
Раздел IV. Теория эквивалентов
Раздел V. Рекомендации о возможности реализации объекта
Раздел VI. Особенности проведения исследования патентной чистоты объектов в отношении промышленных образцов и товарных знаков
Глава 1. Промышленные образцы
Глава 2. Товарные знаки, знаки обслуживания, наименования мест происхождения товаров, фирменные наименования
Раздел VII. Объекты авторского права, которые необходимо учитывать при исследовании патентной чистоты
Глава 1. Программы для ЭВМ и базы данных
Глава 2. Некоторые другие объекты интеллектуальной собственности, которые необходимо учитывать при исследовании патентной чистоты
Раздел VIII. Документальное оформление результатов исследования объектов на патентную чистоту